近年来，抖动（Jitter）已经成为通信工程师非常重视的信号特征。在数字系统中，时钟频率正在变得越来越高。随着速率的升组，在上升沿或是下降沿哪性是微小的变化也变得越来越重要。因为时钟或数据的抖动会影响到数据的完整性、建立时间和保持时间。并且在考虑信号速率与传输距离之间的折中时，抖动也成为必须考虑的因素。

抖动会使数字电路的传输性能恶化，由于信号上升沿或是下降沿在时间轴上的正确位置被取代，在数据再生的时候，数据比特流中就会引入错误。在合并了缓冲存储器和相位比较器的数字仪表中，由于数据溢出或是损耗，错误就会引入到数字信号中。此外，在数模变换电路中，时钟信号的相位调制会使恢复出的采样信号恶化，这在传输编码的宽带信号时会造成问题。

信号完整性

随着速度的增长，今天的高速I/O设计正在更富挑战性。标准要求在物理层有10–12的误码率。随着UI（单元间隙）越来越小，要维持它并提供足够的裕度就越来越困难。其内在含义就是，器件级的抖动必须继续缩减。

过去8年多以来，随着晶体管价格的下跌，通信行业选择将自己的资金投在硅片上去实现更高的速度，而不是投于构成通信信道的电缆或PCB（印刷电路板）材料。今天硅片完成的功能包括发射器端的预加强和FEC以及接收器端的自适应均衡等，用于补偿信道中的环境性变动。另外，有些客户希望将BER改善到10–15或10–17,这样就可以放弃FEC等功能，从而有可能减少功耗。

改善裕度的一个方法是尽量减小发射器的抖动。他说，抖动的一个主要来源是产生时钟信号的RO（环形振荡器）PLL（锁相环）中使用的VCO。他认为，ROPLL方案很有用，因为它为客户提供了频率设定上的灵活性。但ROPLL受到其相位噪声的限制，相位噪声会转换为随机抖动。为避免这种情况，Altera在其StratixIV器件上为其高性能PLL提供了一个基于LC的振荡器，代替ROPLL,提供低得多的噪声与抖动。

功率完整性

Altera特性描述小组的经理BozidarKrsnik称："除了应对信号完整性的挑战以外，我们还要把大量精力花在功率完整性问题上。客户要求更低功率。通过可编程电源技术等创新，能够在电源裕度缩减时分析和确定电源的性能和作用。"

Krsn功率挑战对FPGA尤其显着，客户可以在FPGA结构中随心所欲地做东西。他们可以构建出一些极不寻常的最差情况，涉及到电源能级、时钟频率以及器件编程模式。

测量

许多测试工作都是由DanielChow负责的，他从2003年起就是Altera的高级技术人员。Chow带领一个团队，确定StratixIV的串行总线收发器的功率完整性和信号完整性，重点是抖动的测量。

为了确定高速串行收发器的特性，Altera工程师设计了七种类型的特性板（表1）。采用这些电路板，工程师能够使用到FPGA的所有管脚，包括需要为器件各个子系统提供电源的电源脚。

表1.用于StratixIV的特性板

有些功能出现在不止一块电路板上，尤其是功率完整性，因为功率会影响到一个器件的方方面面。另外，如果Chow不信任某块电路板测得的结果，他可以让一名工程师用另一块板作重复测试。

一块能做功率完整性的特性板为FPGA核心、I/O信号、PLL、差分时钟和高速串行收发器提供一个PDN（功率分配网络）。图1表示了一块特性板，工程师用它确定功率完整性和收发器信号完整性。（此为表1中的1号板）。

图1.一块StratixIV信号完整性特性板包含提供对FPGA高速I/O端口接入的SMA连接器

图2是测试I/O端口信号完整性和功率完整性的一个典型配置。信号发生器和示波器等测试仪器连接到StratixIV特性板上，提供激励与测量功能。

图2.这是典型的测试设置，显示了用于测试StratixIV上I/O端口信号完整性和功率完整性的仪器。特性板为工程师提供接入StratixIV及其收发器的方法。

为什么一个特性板需要每个FPGA功能的独立PDN输入。根据客户的应用与需求，FPGA可能以最佳性能运行，所有电源层都互相隔离，但这样做并非总有经济可行性。我们必须向客户推荐，FPGA哪些部分可以共享电源资源。希望了解电源资源的何种组合可以影响到信号完整性。

工程师们在用StratixIV作设计时可能需要将电源与器件收发器缓冲和PLL隔离开来。Chow指出："如果电源上有太多动作，就不能永远共享一个电源。电源结构对客户应用和需求有很深的依赖；我们的工作是找到不同电源结构之间的折衷。"

Altera工程师还确定了StratixIV器件在更宽DC电压范围内的特性，其范围宽于公司对客户的建议范围。他们在0.9V至1.4V电压下测试收发器，而后公布的建议范围为1.15V至1.25V,他们还对广泛温度范围和各种半导体工艺角落测试了StratixIV.

信号完整性在串行链路中很重要。Altera信号完整性特性板的制造采用了工程师们能找到的最精密PCB材料和SMA连接器。为什么要这么做？因为他们必须尽可能减小走线和连接器可能增加的电压损耗和抖动，这样结果才能代表器件的固有特性。注意图1中SMA至FPGA的距离变化。工程师们用最短走线的SMA连接器，在无电力线噪声环境下测试收发器，尽可能减少了信号的退化问题。

在一个宁静无扰的环境下作测试，Altera工程师能了解到一个器件的最好性能水平，但提供的不是真实性能数据。客户使用器件核心、逻辑和I/O部分的方式影响着收发器的性能，尤其是在高数据速率下。因此，Altera工程师们必须确定器件在各种工作配置下的性能。

开始时，公司的特性描述工程师并没有简单地去使用每个门和I/O脚。那是一种不切实际的方法，因为没有客户会用到一片FPGA中的每只晶体管。每个客户使用FPGA的方法都不相同。所以，我们会从客户获得样品设计，了解他们使用我们器件的方式

收发器运行以后，工程师们就开始检查FPGA的I/O脚，同时查看其对PDN和信号完整性的影响。然后，他们接通核心与逻辑部分的电源，并检查收发器的信号。工程师每接通器件一部分的电源，就检查一次功率完整性，查看噪声和电压骤降情况，它们对PLL和信号抖动都有很深刻的影响。

Chow工作的核心就是研究抖动，以及确定其特性。他说："十年前，我们不知道今天所理解的抖动。我们不知道TJ（总抖动）、RJ（随机抖动）、DJ（确定性抖动）、PJ（周期抖动）或ISI（符号间干扰）。随着FibreChannel和XAUI的实用，我们开始了解抖动。MikePengLi第一个懂得，当你规定BER时，只有TJ起作用。"

为了测量抖动，Chow和其它Altera的工程师采用了一系列仪器，如来自Agilent技术公司、LeCroy公司和Tektronix公司的实时示波器与采样示波器。在实验室中，工程师还使用Agilent公司的频谱分析仪和Agilent公司与SynthesysResearch公司的BERT（误码率测试仪）。

他指出，示波器是在时域测量抖动，频谱分析仪是在频域，而BERT使用数字域。Chow用频谱分析仪查看PJ,因为这个抖动分量包含有频率，这种仪器可以很容易显示它。他还喜欢用频谱分析仪测量RJ,因为它能测量相位噪声，并将结果转换为RJ.频谱分析仪还有低的噪声背景，最低为-160dBm,Chow喜欢用它在一个特定带宽下测量RJ.

"RJ正在越变越小",他说，并指出针对SFP和SFP+收发模块的标准都规定了约800fs的噪声。"对StratixIV器件，客户一般可以预期RJ值在600fs和700fs之间。在实验室中，我们能够测量低至400fs的RJ.很少有仪器能测量低于1ps的RJ.实时示波器才可以到这么低。"图3显示了一台采样示波器上的RJ和PJ,其中RJ=566fs.

图3.在10.3Gbps时，StratixIV的一个串行I/O端口实现了566fs的RJ（随机抖动）。感谢Altera公司供图。

Chow用一台实时或采样示波器测量DJ、RJ、PJ和ISI.他用一台10–12BER的BERT测量TJ.如果所有抖动测量都正确完成，各抖动分量应近似等于TJ.

有些时候抖动分量与TJ并不相符。这些矛盾性有时候来源于仪器，这就是为什么我们必须知道每台仪器如何得到抖动结果，包括硬件限制、软件实现、算法和抖动理论。这么做是因为每台仪器都是看到大象的不同部位。当抖动分量不相符时，Chow和他的团队会复核他们的测量过程，可能要用不同的示波器或时钟恢复系统再作尝试。

Chow可能要更换示波器，再作测量，因为当数据速率增加到8Gbps、10Gbps和11.3Gbps时，每种速率得到的结果都不相同。他表示，10年前也遇到过相同的问题，但时至今日，示波器制造商已经改进了自己的仪器，在数据速率高达5Gbps时，抖动值的差别可以在10%内（参考文献2）。在更高数据速率下，Chow看到不同制造商之间的差别在增加。

Chow提出了差别的原因：较小的UI,它产生较小的抖动裕度，以及更快的上升与下降时间。Chow说："仪器制造商不断告诫我们在测量中需要更多带宽。有些厂家建议说我们需要50GHz的采样示波器模块，根据经验法则，我们需要五倍于数据速率的带宽。"但Chow怀疑是否真正能在自己的示波器上看到一个10GHz信号。因为PCB走线和连接器都会减缓一个信号的跃变时间。他指出："并且设备还非常昂贵。我们的工作是发现要推动的测量标准，以及真正需要哪种设备。"

尽管Altera拥有了最新的测试设备，但客户一般却不会有。客户会尝试验证StratixIV的规格，但他们可能缺乏必要的设备。因此，Chow和他的工程师们必须培训现场应用工程师，告诉他们如何正确地完成测量。他曾收到现场报告，说客户用于测量StratixIV抖动性能的示波器没有足够低的背景噪声。客户会声称他们得不到与Altera一致的抖动测量结果；现场工程师必须解释说这个问题出在测试设备或测试设置，而不是器件上。