随着光电耦合器件在空间环境和核辐射领域的广泛应用，近年来对光电耦合器件的抗辐照性能的研究越来越多。文章主要介绍了辐照对光电耦合器的损伤机理，重点介绍了光电耦合器的辐照效应，特别是电参数辐照效应；针对光电耦合器目前研究的情况，分析了其研究趋势，并提出了一种新的光电耦合器辐照研究方法——低频噪声可靠性表征方法。
新概念C51单片机视频教程 第25课：工控“以弱控强”技术 继电器、光电耦合器
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