出于对光互连芯片进行测试的目的，本文提出了一种基于现场可编程门阵列(Field-Programmable GateArray，FPGA)的高速误码仪的设计方案，并介绍了该方案的设计思想，着重对同步问题进行了讨论，其中对解决同步问题的comma检测等技术进行了较为详细的介绍。
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