器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。本文主要介绍了IC测试的方法。
运算放大器原理（英语）
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深圳高级电工培训：运算放大器的应用
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康华光《电子技术基础-模拟部分》第2章 运算放大器
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