基于STM32的Flash存储器坏块自动检测.pdf
时间:12-05 16:22
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简介：
针对Nand Flash 存储器存在坏块的问题, 提出一种基于STM32 的Flash 存储器坏块自动检测方法, 通过STM32 内部可变静态存储控制器, 发出相应的数据、地址、控制信号, 在不增加外部器件的情况下, 快速访问Flash 存储器, 并给出了部分硬件电路和C 语言编写的程序代码. 该设计已成功实现自动检测Flash 坏块的功能;操作简单、检测速度快、准确率高; 并能读取Flash 的ID 号检测Flash 性能, 同时能够存储和读取2GB 数据.
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