基于LabVIEW和FPGA的存储器测试系统设计.pdf
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简介：
为满足多种存储器的测试需求，基于ＬａｂＶＩＥＷ 和ＦＰＧＡ设计了一套存储器测试系统；系统分为上位机及下位机两个部分，其上位机部分采用ＬａｂＶＩＥＷ 开发测试控制器，完成系统的测试控制、测试数据的采集与存储及对传统仪器的程序控制；下位机部分采用ＦＰＧＡ实现测试所需要的测试激励生成，经实测验证了系统可以对专用存储器进行自动化监控测试，具有测试成本低测试灵活及可扩展性强等特点。
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