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[ 文章 ] 基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法

给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法，讨论了测试的配置 ...

by hcay | 发表时间 2014-11-05 |2586次查看
[ 文章 ] 基于BIST的编译码器IP核测试

介绍了用于IP核测试的内建自测试方法(BIST)和面向测试的IP核设计方法,指出基于IP核的系统芯片 ...

by _海蓝了夏迷了眼 | 发表时间 2016-01-08 |1729次查看
[ 文章 ] 基于LFSR优化的BIST低功耗设计

在BIST(内建自测试)过程中,线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器,为保障故障覆盖率,会产生很长的 ...

by _海蓝了夏迷了眼 | 发表时间 2015-12-30 |1398次查看
[ 文章 ] BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用

介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试（BIST）。讲述了片上系统的由来以及两个 ...

by lihong | 发表时间 2016-03-04 |1227次查看
[ 文章 ] 如何提高抗随机图形设计的故障覆盖率

因LBIST向量的随机本性，采用LogicBIST设计会表现出抗随机模型的趋向，从而导致低的故障覆盖 ...

by 露水非海 | 发表时间 2016-03-31 |1082次查看
[ 文章 ] FPGA与PCB板焊接连接的实时失效检测

当焊接球将封装有FPGA的器件连接到PCB上时，如果没有早期检测，由焊接失效引起的电性异常可能会导致 ...

by 微笑眼泪 | 发表时间 2015-08-22 |725次查看