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BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用
介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个 ...
by
lihong
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发表时间 2016-03-04
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[ 文章 ]
如何提高抗随机图形设计的故障覆盖率
因LBIST向量的随机本性,采用
LogicBIST
设计会表现出抗随机模型的趋向,从而导致低的故障覆盖 ...
by
露水非海
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发表时间 2016-03-31
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