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[ 文章 ] 利用EDA技术实现系统级芯片的可测试性设计

利用EDA技术实现系统级芯片的可测试性设计 ...

by 黑魔 | 发表时间 2014-02-22 |3776次查看
[ 文章 ] 利用EDA工具提高系统级芯片测试的效率

高度复杂的SoC设计正面临着高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战。可测性设 ...

by 畅学e | 发表时间 2015-05-13 |1497次查看
[ 文章 ] 经硬件仿真验证的可测试性设计 (DFT)

最近的统计数据表明：制造完成后，测试芯片是否存在制造缺陷（与不存在设计缺陷相比）的成本已增至制造成本 ...

by 露水非海 | 发表时间 2016-04-13 |1276次查看
[ 文章 ] 针对多级串联模拟电路的可测性设计技术

随着集成电路的发展，测试难度的增加，可测试性设计也越来越重要。针对串联结构的模拟电路提出一种可测性设 ...

by Dabing | 发表时间 2015-03-23 |1235次查看