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[ 文章 ] 基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法

给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法，讨论了测试的配置 ...

by hcay | 发表时间 2014-11-05 |2581次查看
[ 文章 ] 新型的嵌入式存储器测试算法

针对目前嵌入式存储器测试算法的测试效率与故障覆盖率难以兼得的现状，提出了兼顾二者的测试算法。实验结果 ...

by lihong | 发表时间 2016-03-01 |1837次查看
[ 文章 ] 基于LFSR优化的BIST低功耗设计

在BIST(内建自测试)过程中,线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器,为保障故障覆盖率,会产生很长的 ...

by _海蓝了夏迷了眼 | 发表时间 2015-12-30 |1397次查看
[ 文章 ] 如何提高抗随机图形设计的故障覆盖率

因LBIST向量的随机本性，采用LogicBIST设计会表现出抗随机模型的趋向，从而导致低的故障覆盖 ...

by 露水非海 | 发表时间 2016-03-31 |1081次查看
[ 文章 ] 单片机系统对RAM的测试方法

本文介绍了单片机系统RAM测试的一般方法，并在原有基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试 ...

by _海蓝了夏迷了眼 | 发表时间 2015-12-03 |690次查看