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[ 文章 ] IC测试基本原理和ATE测试向量生成

本文在Modelsim环境下，通过Verilog HDL语言建立一个器件模型，搭建一个验证仿真平台， ...

by 宝啦宝呀 | 发表时间 2015-05-16 |4431次查看
[ 文章 ] 基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法

给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法，讨论了测试的配置 ...

by hcay | 发表时间 2014-11-05 |2580次查看
[ 文章 ] CPLD器件测试系统

以Lattice公司的ispLSI1032E为被测对象，设计出一套测试装置，对该芯片的性能指标和可 ...

by 倩倩 | 发表时间 2014-06-20 |1557次查看
[ 文章 ] 利用EDA工具提高系统级芯片测试的效率

高度复杂的SoC设计正面临着高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战。可测性设 ...

by 畅学e | 发表时间 2015-05-13 |1496次查看
[ 文章 ] 对PLD进行边界扫描（JTAG）故障诊断

本文在以PC机作为边界扫描测试向量生成和故障诊断的基础上，对单芯片EPM9320LC84的印刷电路板 ...

by 微笑眼泪 | 发表时间 2015-07-31 |1477次查看
[ 文章 ] IC测试基本原理与ATE测试向量生成

随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得 ...

by 永不止步步 | 发表时间 2014-08-21 |1437次查看
[ 文章 ] pcb设计逻辑芯片功能测试

pcb设计逻辑芯片功能测试用于保证被测器件能够正确完成其预期的功能。为了达到这个目的，必须先创建测 ...

by Dabing | 发表时间 2015-01-21 |1001次查看