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[ 文章 ] 芯片设计问题须知及设计策略

长期可靠性的问题，比如电子迁移（EM）失效机制，历来属于晶圆厂的处理范畴。但随着纳米设计中可靠性实现 ...

by 黑魔 | 发表时间 2014-06-07 |2669次查看

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