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USB 3.0传输速率高达5Gbit/s，且电源汇流排也有高达900毫安培的最大输出电流，因此电路电 ...
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永不止步步 | 发表时间 2014-04-10
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静电放电主要通过放电辐射、静电感应、电磁感应和传导耦合等途径危害电子设备。静电放电属于脉冲式干扰，它 ...
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晴空万里 | 发表时间 2014-07-25
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超快数据线路及小几何尺寸元件的结合，大幅增加了产品遭受静电放电(ESD)影响的风险。此文专门针对US ...
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晴空万里 | 发表时间 2014-08-12
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我们已经把芯片级的ESD 性能写入数据手册多年， 但这些参数仅适用于在芯片焊接到电路板前。那么在电路 ...
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永不止步步 | 发表时间 2015-03-23
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为了保护单个高亮度LED，并防止整个高亮度LED串联串在单个高亮度LED出现故障时熄灭，在高亮度LE ...
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一帘幽梦飞 | 发表时间 2014-09-26
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在介绍EOS/ESD之前，我们先应了解物体之间的电荷转移是如何发生的，电荷转移机制是什么。电荷生成过 ...
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冯大同 | 发表时间 2014-05-13
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ESD：Electrostatic Discharge，即是静电放电，每个从事硬件设计和生产的工程师 ...
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齐欣 | 发表时间 2015-07-24
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随着科学技术的迅速发展，电子产品日趋小型化、微型化、智能化，并进入人类生活的各个方面。人们要求电子产 ...
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冯大同 | 发表时间 2014-03-28
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本文详细分析了静电的产生及其危害,以及对静电产生的控制和对静电放电采取的防护措施。
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可怜的家伙遭受了一系列抗ESD故障的打击，并使得他的产品规划全泡了汤。他肯定错漏了一些步骤。 ...
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永不止步步 | 发表时间 2015-05-28
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电子系统的静电放电（ESD）鲁棒性性能测试通常采用IEC 61000-4-2作为标准。这个标准定义了 ...
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永不止步步 | 发表时间 2014-08-22
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在pcb板的设计当中，可以通过分层、恰当的布局布线和安装实现PCB的抗ESD设计。通过调整PCB布局 ...
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冯大同 | 发表时间 2014-03-06
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静电的滋生来源于摩擦，大型电器设备的工作自然避免不了摩擦。想要电器设备免收静电放电的危害，就必 ...
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露水非海 | 发表时间 2016-01-15
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静电放电是CMOS电路中最为严重的失效机理之一，严重的会造成电路自我烧毁。论述了CMOS集成电路ES ...
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一帘幽梦飞 | 发表时间 2014-10-30
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触控面板技术的研发已有数十年，依照感应原理来区分，以电阻式（Resistive）、电容式（Capac ...
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hcay | 发表时间 2014-10-08
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静电测试主要考察系统设备的抗静电干扰能力。静电测试主要考察系统设备的抗静电干扰能力。 ...
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hcay | 发表时间 2014-10-11
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ESD(静电放电)是CMOS电路中最为严重的失效机理之一，严重的会造成电路自我烧毁。论述了CMOS集 ...
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hcay | 发表时间 2015-01-14
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现在各类数码产品的功能越来越强大，而电路板却越来越小，集成度越来越高。并都或多或少的装有部分接口用于 ...
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Me | 发表时间 2015-12-17
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USB 3.0能够提供达5 Gbps的数据传输率，比USB 2.0快10倍以上。这有利于满足消费者大 ...
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长长11 | 发表时间 2019-05-08
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文章就手机的静电放电抗扰度问题及其相关解决方案进行了描述。首先，介绍一下电磁兼容的测试方法。 ...
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露水非海 | 发表时间 2016-04-25
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