随着信息技术的发展，设计越来越复杂，给AsIC芯片的生产带来比较大的
挑战， 特别是芯片的管脚逐渐增加，降低了芯片的成品率。如何尽早地发现芯片生产过程中造成的缺陷已成为一个棘手的问题，需要一种好的测试方法来解决这个问题以缩短推向市场的时间。嵌入式存储器是SOC系统中集成密度最高的器件，而存储器又是对制造过程中存在的缺陷最敏感的器件之一， 各种类型的嵌人式存储器在当前的SOC设计中被广泛应用，占用了SOC系统大部分面积。为确保存储数据的可靠性，针对存储器做迅速而高效的测试是不可或缺的，因此如何对嵌入在SOC系统中的存储器进行完备的测试成为急需解决的课题。
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