利用silvaco软件对PT-IGBT的I-V特性进行了仿真，在同一电流密度下提取了不同栅极宽度IGBT的通态压降，得到了通态压降随栅极宽度变化的曲线，该仿真结果与理论分析一致。对于相同的元胞尺寸，栅极宽度存在最优值，只要合理地选取，可以有效地降低通态压降。
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