盲元的数量及其分布对红外焦平面阵列器件成像质量的影响较大。在给出盲元定义的基础上，对盲元的各种产生机理进行了分析，并给出了具体的盲元检测方法，为盲元补偿技术的研究提供了理论基础。
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