借助于近年SAT求解算法的研究成果，基于SAT的测试向量自动生成成为了研究热点。本文介绍了数字电路的故障模型、测试生成技术以及如何将数字电路故障测试问题转化为SAT问题。研究了SAT求解的经典算法(DPLL)、局部搜索算法和基于遗传算法的SAT求解过程。分析了遗传算法与SAT结合需要解决的两个问题。
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