125C下1000hrs或150C下300hrs的典型生命周期测试持续时间可在室温下确保至少10年的产品生命周期（不计算静态自身发热条件）。持续时间通过Arrhenius公式计算，这是一个简单而非常精确的计算公式，用于描述给定过程的反应速度常数对温度的依赖性：

过程速率(PR) = Ae-(Ea/kT)Arrhenius公式

这就引出了加速系数(AF)概念，即两个不同温度下的过程速率之比，用于构建所需生命周期测试的持续时间：

AF (T1至T2) = PR(T1)/PR(T2) = e(Ea/k)(1/T1-1/T2)

其中：

A —过程常量

Ea —电子伏特的热活化能量[eV]

k —玻尔兹曼常量，8.62 x 10-5 [eV/K]

T —凯氏度数绝对温度（摄氏度+ 273.15）

我们可以根据实际产品生命周期结果鉴别两种产品说明书参数，并对其各自的生命周期偏移进行量化：

以零或平均值（例如Vos、Vos漂移、Vref、AOL、CMRR以及PSRR等）为中心的规范在10年生命周期中的可能偏移值达

最大（最小）PDS指定值的+/-100%

以绝对值（例如IQ、压摆率以及Isc等）定义的规范在10年生命周期中的可能偏移值达：

最大（最小）PDS指定值的+/-10%

大部分产品说明书参数都遵循标准（高斯）分布规律，如图1所，68%左右的值位于平均值µ的标准偏差(+/-1-sigma)范围内。同样，95%左右位于+/-2-sigma范围内，99.7%左右位于+/-3-sigma的范围内，……。最大及最小PDS限值至少可根据3sigma分布设定，同样，生命周期偏移也基于相同类型的统计分析。

图1* —标准高斯分布

图2是围绕零或另一个平均值的参数的长期偏移。蓝色初始分布曲线的sigma值是0.5，而绿色生命周期末期分布曲线的sigma值为1.0。

图2* —生命周期前期及后期测试分布

因此，最终分布范围是初始分布范围的两倍。这就意味着初始值10年时间会从初始最大／最小产品说明书指定值偏移+/-100%。

为了说明实际IC的生命周期偏移，让我们考虑一下低噪声、低漂移REF5025高精度电压参考及其输出初始精度规范的长期稳定性。

图3显示了REF5025输出电压的初始精度+/-0.05%，以及50ppm下指定0至1000小时的长期稳定性。根据以上说明，REF5025的长期偏移不能超过最大／最小初始精度+/-100%的生命周期测试偏移；因此在室温恒定工作条件下，10年（87,600小时）后的最大输出电压偏移必须低于+/-0.05%或+/-500ppm的等效值。

图3 —摘自REF5025产品说明书

长期偏移显然不是时间的线性函数，而且不能同时满足两个条件，因此偏移速率必然为开始较高（具有更陡的斜率），然后随时间变化逐渐变慢（变得更线性）。因此，其可通过针对1000小时进行标准化的平方根函数进行估计，如下图4所示。

输出电压偏移= 50ppm*√[时间（小时）/1000hrs]

图4 —REF5025的长期稳定性

例如，在经过25,000小时不间断现场工作后，REF5025的典型输出电压偏移可用以上公式计算，50ppm*√25=250ppm，而10年（87,600小时）后，偏移值则将为50ppm*√87.6=468pp。因此在使用寿命末期，REF5025输出电压偏移正如预计的那样，在500ppm允许偏移范围内，等于产品说明书最大初始精度规范的0.05%。