与传统光源相比，LED在其使用寿命结束时仍会发光，只是不够明亮。为预测LED的使用寿命，必须先定义失效标准。L70/B50是最常用的标准。L代表寿命结束时的相对亮度级别(70%)，B代表此时亮度低于 70% 的LED的相对数量(50%)。

用于确定普通照明中 LED使用寿命的行业标准包括测试规范IES LM-80和基于IES准则TM-21的计算方法。LM-80规定数据的记录方式。测试必须在两种不同的封装温度下持续进行至少6000个小时。TM- 21描述根据LM-80测试结果预测使用寿命的计算方法。外推法限制为LM-80测试时长的六倍。

除了高温，高电流，相对湿度也会加快劣化过程。为获得更精确的使用寿命预测，欧司朗光电半导体等制造商不仅让LED在不同的温度下，而且在不同的电流和不同的湿度级别下工作，并定期测量亮度。乍一看，似乎所有LED的亮度下降都是一样的。 亮度下降可通过数学函数来定义，这些函数能推断出将来的亮度下降。但我们无法显而易见地看出哪个函数最准确。要找到最适合的函数，我们可以使用数学技巧， 即最小二次偏差方法。

基于此矩阵，可预测 LED 在不同应用条件下的使用寿命。

我们能得到更精确的结果

但即使是上述方法，也没有考虑到一个事实：单个LED元件受到不同老化机制的影响。例如，工作期间，由于芯片上有杂质区域（即不发光区域），会出现光分 散中心。封装材料可能会变黄，反射表面可能会变暗。对于更精确的老化模型，将分别记录各种LED元件的老化行为，然后将结果组合到更复杂的模型中。

在时间极长的实验中进行的测量仍与此老化模型产生的结果不同。虽然芯片上的工艺是导致亮度逐渐降低的主要因素，但20,000小时后，变得易碎的封装等也会明显加快亮度下降。这正是大大加速的元件老化测试能够显示其作用的地方。例如温度为150°C时，在仅1000小时左右后出现的亮度下降，就可能与在正常条件(80°C)下10,000小时后出现的亮度下降相同

矩阵法描述不同条件下的使用寿命

如果在不同的温度和电流下对多个元件进行加速老化，并根据各测试条件计算使用寿命，则可以制作出一个矩阵。这有助于预测元件在不同条件下的使用寿命。与正常工作条件下的测试相比，加速的使用寿命测试（比如欧司朗光电半导体之前执行的那些测试）提供的LED衰减/老化行为预测更加可靠。