半导体制造工艺流程参考.doc
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简介:
在制造高频功率器件时,往往遇到一个击穿电压与集电极串联电阻对集电极材料电阻率的要求矛盾的问题,这时如果在低电阻率的单晶硅上外延生长一层高阻的外延层,器件做在外延层上,就能很好地解决以上的矛盾。外延层高电阻率保证击穿电压,低电阻率衬底使集电极串联电阻降低,减少器件功率损耗。
在单晶硅衬底上沿着原来的结晶轴方向延伸生长一层导电类型、电阻率、厚度和晶格结构及其完整性都符合要求的新的单晶层的过程叫做外延,这层新的单晶层叫做外延层。若外延层结构和性质与衬底材料相同叫做同质外延,反之叫异质外延。根据外延层在器件制造中的作用来分,器件直接做在外延层上的叫做正外延,做在原单晶层上,低阻的外延层反过来作为支撑衬底的叫反外延。
外延方法主要有气相外延、液相外延、真空蒸发、高频溅射、分子束外延等,生产中常用的是硅的气相外延法。