1：雪崩失效（电压失效），也就是我们常说的漏源间的BVdss电压超过mosFET的额定电压，并且超过达到了一定的能力从而导致mosFET失效。

　　2：SOA失效（电流失效），既超出mosFET安全工作区引起失效，分为Id超出器件规格失效以及Id过大，损耗过高器件长时间热积累而导致的失效。

　　3：体二极管失效：在桥式、LLC等有用到体二极管进行续流的拓扑结构中，由于体二极管遭受破坏而导致的失效。

　　4：谐振失效：在并联使用的过程中，栅极及电路寄生参数导致震荡引起的失效。

　　5：静电失效：在秋冬季节，由于人体及设备静电而导致的器件失效。

　　6：栅极电压失效：由于栅极遭受异常电压尖峰，而导致栅极栅氧层失效。