容错设计技术是提高计算系统可信性的重要措施。高能粒子辐射引起的软错误曾被认为是影响宇航电子用品可靠性的首要因素。随着集成电路特征尺寸的急剧减小进入纳米级，关键电荷也相应减小，伴之工作电压持续降低，工作频率急剧升高，即使在地面环境中，宇宙射线中的中子和封装材料中的Q粒子造成的软错误已对VLSI的正常工作构成严重威胁。本文针对软错误对电路进行加固设计。
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