与红外单元器件系统相比，焦平面面阵探测器的一个最大的缺点是其固有的非均匀性，尽管现在面阵探测器的非均匀性有了很大改进，但是非均匀性仍然限制凝视红外系统的探测性能。实用化、实时的非均匀性校正是红外焦平面器件应用的一个关键技术，尽管现在已经有很多种基于场景的非均匀性校正方法，但是两点校正算法仍然是基础的校正方法，有不可替代的价值。两点校正算法的流程简单固定，非常适合用FPGA实现。文章介绍了利用FPGA硬件实现焦平面探测器非均匀性的两点校正算法，实验达到了预期效果，同时也显示了该算法的一些不足之处。
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